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光刻膠是一種對光或其他輻射敏感、在曝光後溶解度會改變的薄膜材料,是晶片光刻製程中的關鍵化學材料,用來把掩模上的微細電路圖形轉移到矽晶圓或其他基板表面。
在製程中,光刻膠一般以液態旋塗在矽晶圓表面,經過烘烤形成均勻薄膜後再進行曝光。
曝光與顯影之後,部分光刻膠被溶解、部分保留下來,於是就在基板表面形成所需圖形,後續刻蝕或離子佈植時,光刻膠就像「防護罩」一樣保護下面的區域。
依照「曝光區域在顯影後是被溶解掉還是被保留下來」,光刻膠大致可分為正性與負性兩大類。
| 項目 | 正性光刻膠 | 負性光刻膠 |
|---|---|---|
| 顯影後變化 | 曝光區溶解度變大,被顯影液溶解掉 | 曝光區交聯或聚合,變得不溶解被保留 |
| 解析度 | 解析度較高,適合先進奈米製程 | 解析度相對較低,多用於線寬要求較寬場景 |
| 機械與耐熱性 | 一般機械強度與耐熱性 | 機械強度與耐熱性較優 |
| 常見應用 | 高精度微電子晶片電路圖形 | 封裝、光學結構、MEMS、柔性電子等 |
在晶片製造中,光刻膠用於製作集成電路與分立元件的微細圖形,是光刻製程中的核心材料之一。
整體來看,光刻製程在晶片製造中,成本占比可達約三分之一,工藝時間占比則可達全部流程的四至六成,因此光刻膠的性能對良率與成本都有關鍵影響。
在先進的極紫外(EUV)製程中,光刻膠需要對波長約 13.5 nm 的高能光子高度敏感,同時要兼顧超高解析度與極低線邊粗糙度,對材料設計提出極嚴苛的要求。
目前全球高端光刻膠市場,特別是 KrF、ArF、EUV 等先進產品,主要由日本與少數國際大廠掌握,例如 JSR、東京應化(TOK)、信越化學、富士電子等,其市占率在高階領域非常集中。
近年來,韓國與中國大陸廠商積極投入本土高端光刻膠研發,例如韓國廠商與晶片大廠合作開發自製 EUV 光刻膠,希望降低對日本供應的依賴。
A:正性光刻膠在曝光後是「被洗掉」的區域,搭配合適的化學配方與工藝條件,可以取得較高的圖形解析度與較佳的線寬控制,對於 10 奈米甚至更細線寬的製程特別重要。
A:不一定。負性光刻膠雖然在極限解析度上通常不如正性光刻膠,但在需要厚膜、良好機械強度或特殊結構(例如微結構、封裝、光學陣列)時依然非常重要,是不同應用場景的互補選擇。
A:EUV 光刻膠要在極短波長、高能量的 13.5 nm 光下工作,必須兼顧高感光度、超高解析度與低線邊粗糙度,因此在樹脂設計、光酸結構與添加劑體系上都有顯著差異,是目前材料研發的熱點。
A:會。光刻膠的均勻性、殘留物、線邊粗糙度、抗刻蝕能力等,都會直接影響圖形是否清晰、是否有缺陷,間接影響晶片良率與性能。
A:如果想深入理解光刻膠,建議具備基礎的高分子化學、物理光學(尤其是干涉與繞射)、以及半導體製程(如光刻、刻蝕、薄膜沉積)等相關背景,會更容易看懂材料配方與工藝參數的意義。